FreeTrak Probe
- 系統參數:
簡介 FreeTrak Probe無線光筆測量儀可便攜至計量室、車間和各類具有挑戰性的工業環境中使用,系統在運行中不易受到振動、位置變化等因素的影響,用戶在測量過程中可隨時移動光學跟...
簡介
FreeTrak Probe無線光筆測量儀可便攜至計量室、車間和各類具有挑戰性的工業環境中使用,系統在運行中不易受到振動、位置變化等因素的影響,用戶在測量過程中可隨時移動光學跟蹤儀或光筆,獲取穩定的高精度數據。該系統解決了傳統坐標測量儀不便攜的瓶頸,是提升整體測量效率的理想方案。
功能特性
1高精度:精度高達0.020mm,重復性高。15m³內體積精度高達0.1mm;
2動態參照:基于動態光學跟蹤原理,系統可對光筆進行動態跟蹤定位并實時精確獲得光筆紅寶石探針的三維坐標信息,從而實現了快速精確的接觸式三維坐標測量;
3測量的自由度和靈活性:光筆與光學跟蹤儀之間無需線纜連接,滿足多樣化現場環境使用需求;
4即時檢測:使用光筆測量儀可獲取實時的CAD檢測報告;
5The Probe 無線光筆:多功能按鈕設計,通過多功能按鈕,光筆與軟件實現無縫式交互,可持續性工作流程,更長的電池壽命助力持續性測量工作。
應用領域
| 檢測:初樣檢測、產品質量檢測、形變分析、定位和部件坐標對齊、大型工裝檢測;
| 逆向工程:建模、維護,維修和翻新、模具設計、工裝夾具設計;
| 其他應用:動態追蹤及定位、生產線裝配調試。
技術參數